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廣州超聲波探傷儀探頭種類(lèi)
日期：2025-12-10 09:00
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摘要：
超聲波探傷儀探測(cè)頭種類(lèi)繁多，日常使用中常見(jiàn)的探測(cè)頭種類(lèi)有以下幾種：
A.超聲波探傷儀直探測(cè)頭
進(jìn)行垂直探傷用的單晶片探測(cè)頭，主要用在縱波探傷。直探測(cè)頭由插座、外殼、保護(hù)膜、壓電晶片、吸聲材料等組成，頭接觸面為可更換的軟膜，用在檢查表層粗糙的部件。
B.超聲波探傷儀斜探測(cè)頭
進(jìn)行斜射探傷用的探測(cè)頭，主要用在橫波探傷。斜探測(cè)頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成，斜探測(cè)頭的聲束與探測(cè)頭表層傾斜，因此可用在檢查直聲束無(wú)法到達(dá)的部位、或者缺陷的方向與檢查面之間存在夾角的區(qū)域。
C.超聲波探傷儀小徑管探測(cè)頭
單晶微型橫波斜探測(cè)頭，用在小直徑薄壁管焊接接頭的檢驗(yàn)。檢查標(biāo)準(zhǔn)參照電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T8202002《管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)程》，適合檢查管徑≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直徑薄壁管；也可適用在其他行業(yè)類(lèi)似管道的檢查。探測(cè)頭外形尺寸小,前沿距離≤5mm，始脈沖占寬≤1.5mm(相當(dāng)于鋼中深度)，分辨力大于等于20dB。根據(jù)被檢查管道外徑的不同，檢查面被加工成對(duì)應(yīng)管徑的弧度。
D.超聲波探傷儀表層波探測(cè)頭
用在發(fā)射和接收表層波的探測(cè)頭。表層波是沿部件表層傳播的波，幅值隨表層下的深度迅速減少，傳播速度是橫波的0.9倍，質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)軌跡為橢圓。表層波探測(cè)頭在被檢部件的表層
和近表層產(chǎn)生表層波。型號(hào)中列明的角度為有機(jī)玻璃斜塊的傾斜角(入射角)。
E.超聲波探傷儀可拆式斜探測(cè)頭
斜探測(cè)頭的一種特殊類(lèi)型，將斜探測(cè)頭分成斜塊、探測(cè)頭芯兩個(gè)部分，使用時(shí)將兩者組合起來(lái)。常用的規(guī)格2.5P20的探測(cè)頭芯、不同K值的斜塊(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他規(guī)格的可拆式斜探測(cè)頭。
F.超聲波非金屬檢查用探測(cè)頭
用在檢查非金屬材料，如混凝土、木材、巖石等。成對(duì)使用，一發(fā)一收，工作方式為透射式。鋁合金外殼，頻率從12.5KHz到250KHz，連接到探測(cè)頭線的插座為Q9。
G.超聲波探傷儀雙晶探測(cè)頭
裝有兩個(gè)晶片的探測(cè)頭，一個(gè)作為發(fā)射器，另一個(gè)作為接收器。又稱(chēng)分割式探測(cè)頭、或者聯(lián)合雙探測(cè)頭。雙晶探測(cè)頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成，使用垂直的縱波聲束掃查部件。相對(duì)直探測(cè)頭而言，雙晶直探測(cè)頭具有更好的近表層缺陷檢出能力；對(duì)于粗糙或者彎曲的檢查面，具有更好的耦合效果。
H.超聲波水浸式探測(cè)頭
用在半自動(dòng)或者自動(dòng)化探傷系統(tǒng)中。當(dāng)探測(cè)頭發(fā)射的聲束軸線垂直于檢查面時(shí)，縱波直聲束掃查部件；調(diào)節(jié)探測(cè)頭聲束軸線與檢查面成一定的夾角，聲束在水和部件這兩種介質(zhì)的界面折射，可在部件中產(chǎn)生傾斜的橫波聲束來(lái)掃查部件。將探測(cè)頭晶片前面的有機(jī)玻璃或者固化的環(huán)氧樹(shù)脂加工成一定弧度(球面或者圓柱面)，可得到點(diǎn)聚焦或者線聚焦的水浸式探測(cè)頭。
A.超聲波探傷儀直探測(cè)頭
進(jìn)行垂直探傷用的單晶片探測(cè)頭，主要用在縱波探傷。直探測(cè)頭由插座、外殼、保護(hù)膜、壓電晶片、吸聲材料等組成，頭接觸面為可更換的軟膜，用在檢查表層粗糙的部件。
B.超聲波探傷儀斜探測(cè)頭
進(jìn)行斜射探傷用的探測(cè)頭，主要用在橫波探傷。斜探測(cè)頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成，斜探測(cè)頭的聲束與探測(cè)頭表層傾斜，因此可用在檢查直聲束無(wú)法到達(dá)的部位、或者缺陷的方向與檢查面之間存在夾角的區(qū)域。
C.超聲波探傷儀小徑管探測(cè)頭
單晶微型橫波斜探測(cè)頭，用在小直徑薄壁管焊接接頭的檢驗(yàn)。檢查標(biāo)準(zhǔn)參照電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T8202002《管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)程》，適合檢查管徑≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直徑薄壁管；也可適用在其他行業(yè)類(lèi)似管道的檢查。探測(cè)頭外形尺寸小,前沿距離≤5mm，始脈沖占寬≤1.5mm(相當(dāng)于鋼中深度)，分辨力大于等于20dB。根據(jù)被檢查管道外徑的不同，檢查面被加工成對(duì)應(yīng)管徑的弧度。
D.超聲波探傷儀表層波探測(cè)頭
用在發(fā)射和接收表層波的探測(cè)頭。表層波是沿部件表層傳播的波，幅值隨表層下的深度迅速減少，傳播速度是橫波的0.9倍，質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)軌跡為橢圓。表層波探測(cè)頭在被檢部件的表層
和近表層產(chǎn)生表層波。型號(hào)中列明的角度為有機(jī)玻璃斜塊的傾斜角(入射角)。
E.超聲波探傷儀可拆式斜探測(cè)頭
斜探測(cè)頭的一種特殊類(lèi)型，將斜探測(cè)頭分成斜塊、探測(cè)頭芯兩個(gè)部分，使用時(shí)將兩者組合起來(lái)。常用的規(guī)格2.5P20的探測(cè)頭芯、不同K值的斜塊(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他規(guī)格的可拆式斜探測(cè)頭。
F.超聲波非金屬檢查用探測(cè)頭
用在檢查非金屬材料，如混凝土、木材、巖石等。成對(duì)使用，一發(fā)一收，工作方式為透射式。鋁合金外殼，頻率從12.5KHz到250KHz，連接到探測(cè)頭線的插座為Q9。
G.超聲波探傷儀雙晶探測(cè)頭
裝有兩個(gè)晶片的探測(cè)頭，一個(gè)作為發(fā)射器，另一個(gè)作為接收器。又稱(chēng)分割式探測(cè)頭、或者聯(lián)合雙探測(cè)頭。雙晶探測(cè)頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成，使用垂直的縱波聲束掃查部件。相對(duì)直探測(cè)頭而言，雙晶直探測(cè)頭具有更好的近表層缺陷檢出能力；對(duì)于粗糙或者彎曲的檢查面，具有更好的耦合效果。
H.超聲波水浸式探測(cè)頭
用在半自動(dòng)或者自動(dòng)化探傷系統(tǒng)中。當(dāng)探測(cè)頭發(fā)射的聲束軸線垂直于檢查面時(shí)，縱波直聲束掃查部件；調(diào)節(jié)探測(cè)頭聲束軸線與檢查面成一定的夾角，聲束在水和部件這兩種介質(zhì)的界面折射，可在部件中產(chǎn)生傾斜的橫波聲束來(lái)掃查部件。將探測(cè)頭晶片前面的有機(jī)玻璃或者固化的環(huán)氧樹(shù)脂加工成一定弧度(球面或者圓柱面)，可得到點(diǎn)聚焦或者線聚焦的水浸式探測(cè)頭。
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